SANKO/日本三高SWT-NEO II. 双型涂层测厚仪
可根据测量应用选择连接探头。
LCD 屏幕上显示指导作说明。
大测量存储器（NEO II：20,000 点，NEO III：40,000 点）。
通过注册校准曲线轻松测量呼叫
内置上下限设置和统计计算功能。
数据可以通过 USB 连接传输到计算机。
内置特定的低功耗无线电输出 （NEO-III.）。
倾斜支架

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