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Yamato大和 超快光谱干涉测厚仪 (SF-3)

Yamato大和 超快光谱干涉测厚仪 (SF-3)
产品概述
内置光谱仪,用于从 μm 到 mm 的厚膜测量,边做边测量

超快光谱干涉测厚仪(SF-3)的特点

  • 产品型号:
  • 厂商性质:经销商
  • 更新时间:2025-08-22
  • 访  问  量:39
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产品概述

内置光谱仪,用于从 μm 到 mm 的厚膜测量,边做边测量

超快光谱干涉测厚仪(SF-3)的特点

光谱干涉型,用于厚膜区域和多层薄膜的高精度

采用光谱干涉型的膜厚仪,是测量高精度膜厚的标准方法。 测量范围为 15 至 4500 μm 的光谱仪。 最多可处理 5 层的专有分析方法

紧凑的设计,强调集成。 光纤用于光路系统。

光谱仪、光源和控制器聚集在一个尺寸为 123 (W) x 128 (H) x 224 (D) mm 的主体中。 使用光纤灵活引导到测量点

嵌入式厚膜传感器,具有出色的实时测量和安装环境

它可以测量短期测量和随时间的变化,并具有小于 1 点和 1 毫秒的高速支持。 此外,它还配备了一个探头,可以拍摄约20μm的光斑直径和超过50mm的测量距离


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